力旺與西門子聯手推出SRAM修復工具，應對先進AI SoC需求

【財訊快報／記者李純君報導】
力旺電子(3529)今宣布，與西門子聯手推出突破性的SRAM修復工具。

該解決方案將西門子的Tessent MemoryBIST軟體與eMemory的NeoFuse OTP整合，主要應對具高密度SRAM之先進AI SoC的需求。

當今的AI晶片對於配備AI語言模型、資料處理器(DPU)和靜態隨機存取記憶體內運算(SRAM-based CIM)架構的需求日趨增加，然而，製程微縮及密度急劇增加對SRAM的製造、良率和可靠度帶來可觀的挑戰。

隨著SRAM密度增加，故障位元發生機率也更高，因此，晶片內建的自動修復(built-in self-repair; BISR)技術和一次性可編程記憶體(OTP)在提升良率上就扮演著更重要的角色。

西門子專精於記憶體測試解決方案，Tessent MemoryBIST實現了片上記憶體全面自動化的全速測試、診斷、修復、調試和特性鑑定。

而力旺則是在OTP在儲存故障位元方面發揮作用。

此整合解決方案標榜OTP編程效率，並適用於各式SoC總線協議設計。

與eFuse的區別在於，NeoFuse內建自我檢測機制，在不需增加多餘電路下，於部署後可持續進行自動檢測和修復。

這項優勢對於車載應用等高階晶片至關重要。

「力旺的OTP通過了台積電N5、N5A和N4P的嚴格認證，具有良率、可靠度、面積和成本效益。

西門子Tessent MemoryBIST與eMemory NeoFuse OTP的全面整合，支持AI晶片設計。

」力旺資深業務開發副總盧俊宏表示。

「在全球 IC 市場向人工智慧技術的典範轉移過程中，需要創新的解決方案。

」西門子數位設計創作平台Tessent資深副總裁暨總經理Ankur Gupta表示。

「Tessent MemoryBIST與eMemory OTP的預整合方案有助於先進AI晶片開發商以低成本實現快速上市、高良率和可靠度。

」
來源: Yahoo